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什么樣的設計缺陷會對檢驗檢測有影響

2020-05-19 12:01:49 657

檢測影響.jpg

  1. 元器件間距過小。

  2. 較高元器件附近未留足空間,飛針等設備無法操作。

  3. 測試點隱藏或遮蔽(如測試點設計在元器件底部)而無法接觸電測試點。

  4. 測試點尺寸、間距過小和焊盤可焊性涂層材料用OSP。


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